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共焦球面掃描F-P干涉儀

產品介紹

    

共焦球面掃描FP干涉儀(激光縱模觀測儀)

一.      主要用途

共焦球面掃描FP干涉儀的作用是檢測激光束中實際存在的頻譜。可用于高分辨光譜測量、激光模式檢測、激光縱模間隔測量、激光頻漂監測、單模譜激光器生產與檢測,也可作為帶寬極窄的特種濾波器,如果激光譜線本身線寬較大,也可用該儀器測量其譜線寬度。

二.共焦球面掃描FP干涉儀技術參數(可定制波長參數):

CFP-1.5-1064腔體:

工作波長:1064±75nm

腔長L50 mm

腔載體材料:低膨脹系數合金;

自由光譜范圍:νFSR:1.5 GHz

精細度F≥200

PZT參數D33:約2.1nm∕v

CFP-1.5-633腔體:

工作波長:600~660nm

腔長L50 mm

腔載體材料:低膨脹系數合金;

自由光譜范圍:νFSR:1.5 GHz

精細度F≥200

PZT參數D33:約2.1nm∕v

CFP-1.5-532腔體:

工作波長:500~560nm

腔長L50 mm

腔載體材料:低膨脹系數合金;

自由光譜范圍:νFSR:1.5 GHz

精細度F≥150

PZT參數D33:約2.1nm∕v

鋸齒波發生器:

1064633腔體:   鋸齒波幅度:0~250V  可調;

直流電壓:0~80V  可調;

鋸齒波頻率:10~40 HZ  可調。

532633腔體:    鋸齒波幅度:0~140V  可調;

直流電壓:0~80V  可調;

鋸齒波頻率:10~40 HZ  可調。

光電探測器:

波長響應:400-1100nm

放大器:最大輸出10v,增益可調;

輸入光強:≤10mw

 

 

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